1. Testing and diagnosis of VLSI and ULSI
المؤلف: edited by Fabrizio Lombardi and Mariagiovanna Sami
المکتبة: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع: Very large scale integration - Testing - Congresses ، Integrated circuits,Ultra large scale integration - Testing - Congresses ، Integrated circuits
رده :
TK
7874
.
N345
1987
2. Testing and diagnosis of VLSI and ULSI
پدیدآورنده :
موضوع : ، Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing-- Congresses,، Integrated circuits-- Ultra large scale integration-- Testing-- Congresses
۲ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.
3. Testing and diagnosis of VLSI and ULSI
المؤلف: NATO Advanced Study Institute on Testing and Diagnosis of VLSI and ULSI )7891: Como, Italy(
المکتبة: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه صنعتي خواجه نصير الدين طوسى (طهران)
موضوع: ، Integrated circuits- Very large scale integration- Testing- Congresses,، Integrated circuits- Ultra large scale integration- Testing- Congresses
رده :
TK
7874
.
N345
1987
